ProEye系列產(chǎn)品為我司自行開發(fā)、具備自主知識產(chǎn)權的半導體檢測設備，應用于Wafer和chip工藝中需要自動化、微觀缺陷檢測以及高精度測量的場景，我們基于樣品特點對缺陷探測精度、生產(chǎn)效率、易用性進行了優(yōu)化，提供了自動和手動操作模式，非常適合作為生產(chǎn)工具和研究開發(fā)階段的工具來使用。